低溫試驗箱適用于非散熱和散熱兩類試驗樣品�？己撕痛_定電工、電子產品在低溫環境條件下貯存和使用的適應性。 低溫試驗方法分為以下三類 非散熱試驗樣品低溫試驗：--試驗Aa：溫度突變 --試驗Ab：溫度漸變 散熱試驗樣品低溫試驗： --試驗Ad：溫度漸變 低溫試驗方法通常用于條件試驗期間能達到溫度穩定的試驗樣品。試驗持續時間是從試驗樣品溫度達到穩定時開始計算的。在特殊情況下，如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩定，則試驗持續時間從試驗箱達到規定試驗溫度時開始計算。 相關規范應規定： a）試驗箱內溫度變化速率； b）試驗樣品放入試驗箱的時間； c）試驗樣品在試驗條件下暴露試驗開始的時間； d）試驗樣品通電或加負載的時間。 在這些條件下，相關規范的制定者可根據GB/T 2424.1-1989導則選定以上4個參數（以上條件下的修訂正在考慮之中）
